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标准状态

基础信息

标准号
DB35/T 1146-2011
发布日期
2011-04-10
实施日期
2011-07-10
制修订
制定
中国标准分类号
H80
国际标准分类号
29.045
技术归口
中国科学院福建物质结构研究所
批准发布部门
福建省质量技术监督局
行业分类
科学研究和技术服务业
标准类别
方法标准

备案信息

备案号:32194-2012

备案日期:2011-12-20

备案公告: 2012年第1号(总第145号)

适用范围

本标准规定了测定硅材料中杂质元素含量的辉光放电质谱法(G D M S )所涉及的术语和定义、原理、试剂与材料、仪器设备、样品要求、样品要求、分析步骤、结果计算、允许偏差。 本标准适用于纯度不高于99.99999%的硅材料中的杂质元素L i、Be、B、N a、M g、A 1、P、K、T h、U等元素的测定

起草单位

中国科学院福建物质结构研究所

起草人

黄丰,吕佩文,陈伦泰,王永好,林璋,黄瑾